BS ISO 13067-2011 微光束分析.背散射电子衍射.平均颗粒粒度测量
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 12:41:55 浏览:9356
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【英文标准名称】:Microbeamanalysis.Electronbackscatterdiffraction.Measurementofaveragegrainsize
【原文标准名称】:微光束分析.背散射电子衍射.平均颗粒粒度测量
【标准号】:BSISO13067-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-11-30
【实施或试行日期】:2011-11-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Average;Back-scattering;Definitions;Diffraction;Electronbeams;Electronmicroscopes;Grainsize;Measurement;Measuringaccuracy;Measuringincertainity;Measuringtechniques;Methodsofanalysis;Microanalysis;Particlesizemeasurement;Scanningelectronmicroscopes;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:32P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:微光束分析.背散射电子衍射.平均颗粒粒度测量
【标准号】:BSISO13067-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-11-30
【实施或试行日期】:2011-11-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Average;Back-scattering;Definitions;Diffraction;Electronbeams;Electronmicroscopes;Grainsize;Measurement;Measuringaccuracy;Measuringincertainity;Measuringtechniques;Methodsofanalysis;Microanalysis;Particlesizemeasurement;Scanningelectronmicroscopes;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:32P;A4
【正文语种】:英语
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